測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
重復(fù)精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
導(dǎo)航×
新聞資訊
News時間：02-14 2023 來自：祥宇精密
三坐標(biāo)探頭的介紹
一.用途及特點
三坐標(biāo)測量儀的測頭是用來探測被測物體表面坐標(biāo)和形狀信息的部件。測頭通常由接觸式和非接觸式兩種類型。接觸式測頭通過觸碰被測物體表面來獲取坐標(biāo)和形狀信息，適用于較硬、表面光潔度較高的物體。非接觸式測頭則通過光學(xué)或激光等方式獲取被測物體表面的坐標(biāo)和形狀信息，適用于表面較為脆弱、光潔度不高的物體。三坐標(biāo)測量儀的測頭具有高精度、高穩(wěn)定性、高重復(fù)性等特點，可用于精密測量、質(zhì)量控制等領(lǐng)域。
二.材質(zhì)
三坐標(biāo)測量儀的測頭材質(zhì)一般是高強度合金鋼、陶瓷、硬質(zhì)合金等材料。這些材料具有高硬度、高強度、高耐磨性等特點，能夠保證測頭的精度和壽命。此外，對于接觸式測頭來說，測頭球桿的材質(zhì)也很重要，一般采用不銹鋼、陶瓷、碳纖維等材質(zhì)，以保證測頭球桿的剛性和耐磨性。
400-801-9255
聯(lián)系人：張小姐
電 話：0769-8160-1125
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